GB/T 5594的本部分規(guī)定了裝置零件、真空電子器件、電阻基體、半導體及集成電路等基片等用電子陶瓷材料介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測試方法。
本部分適用于裝置零件、真空電子器件、電阻基體、半導體及集成電路基片等用電子陶瓷材料在頻率為1MHz，溫度從室溫至500℃條件下的介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測定。