本文件定義了集成電路(IC)傳導(dǎo)和輻射騷擾電磁抗擾度測(cè)量的通用信息,描述了常規(guī)的試驗(yàn)條件、試驗(yàn)設(shè)備和布置、試驗(yàn)程序和試驗(yàn)報(bào)告內(nèi)容。
附錄A中給出了試驗(yàn)方法的對(duì)照表,幫助選擇適當(dāng)?shù)臏y(cè)量方法。
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