本文件描述了半導體單晶材料在波長0.2μm?300μm范圍內(nèi)透過率的測量方法。
本文件適用于硅、鍺、磷化銦、硒化鎘、硫化鎘、碳化硅、氮化鎵、氧化鎵、藍寶石、金剛石等半導體單晶材料透過率的測定。
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