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金覆蓋層厚度的掃描電鏡測量方法

標 準 號： GB/T 17722-1999
替代情況：
發(fā)布單位： 國家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局
起草單位： 中國科學院北京科儀研制中心
發(fā)布日期： 1999-04-01
實施日期： 1999-01-02
點 擊 數(shù)：
更新日期： 2025年09月13日
內(nèi)容摘要

本標準規(guī)定了各類金制品的金覆蓋層厚度的掃描電鏡測量方法的技術(shù)要求，本標準也適用于電子探針儀測量金覆蓋層厚度，適用的厚度測量范圍為0.2~10um。其他金屬材料的覆蓋層厚度的測量也可參照執(zhí)行。

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