本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了雙折射晶體和透射型偏振器件在0.25~1.7μm光譜區(qū)內(nèi)主要光學(xué)參數(shù)的測(cè)試方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于光學(xué)、光電子學(xué)和激光技術(shù)中對(duì)雙折射晶體的光譜透射曲線和均勻性的測(cè)試，以及對(duì)偏振器件的消光比、偏離角和光輻射損傷閾值的測(cè)試。