本標準規(guī)定了雙折射晶體和透射型偏振器件在0.25~1.7μm光譜區(qū)內(nèi)主要光學參數(shù)的測試方法。本標準適用于光學、光電子學和激光技術(shù)中對雙折射晶體的光譜透射曲線和均勻性的測試，以及對偏振器件的消光比、偏離角和光輻射損傷閾值的測試。