本文件描述了光學和光子學低溫、高溫、濕熱試驗的環(huán)境試驗方法。
本文件適用于光學和光子學儀器包括來自其他領域附屬組件（如機械、化學和電子設備）的低溫、高溫與濕熱試驗。
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