本文件描述了光學和光子學長霉試驗的環(huán)境試驗方法。
本文件適用于光學和光子學儀器，包括來自其他領域的組件（如機械、化學和電子設備）的長霉試驗。
本文件不適用于常規(guī)生產(chǎn)檢查。
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