本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了用于校準(zhǔn)放射性表面污染監(jiān)測儀的低能β和γ參考源的核素、結(jié)構(gòu)形式、特性及技術(shù)要求。本標(biāo)準(zhǔn)適用于校準(zhǔn)表面污染監(jiān)測儀的能量低于015MeV的β粒子和能量低于1.5MeV的光子的參考源(除3H以外)。所涉及的參考源主要用于校準(zhǔn)可測量具有電子俘獲或同質(zhì)異能躍遷衰變核素的表面污染監(jiān)測儀的儀器效率。
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