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本文件描述了一種用于量化安裝在標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)板或其最終應(yīng)用的印制電路板(PCB)上的集成電路(IC)對電磁傳導(dǎo)騷擾的射頻抗擾度測量方法。