本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了半導(dǎo)體集成電路模擬鎖相環(huán)電參數(shù)測(cè)試方法的基本原理。模擬鎖相環(huán)與數(shù)字電路相同的靜態(tài)和動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試可參照GB3439《半導(dǎo)體集成電路TTL電路測(cè)試方法的基本原理》。