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半導(dǎo)體集成電路采樣/保持放大器測試方法的基本原理

標(biāo) 準(zhǔn) 號： GB/T 14115-1993
替代情況：
發(fā)布單位： 國家技術(shù)監(jiān)督局
起草單位： 上海件五廠
發(fā)布日期： 1993-01-21
實施日期： 1993-08-01
點 擊 數(shù)：
更新日期： 2025年09月04日
內(nèi)容摘要

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了半導(dǎo)體集成電路采樣/保持放大器電參數(shù)測試方法的基本原理。本標(biāo)準(zhǔn)適用于半導(dǎo)體集成電路采樣/保持放大器的電參數(shù)測試。

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