本文件描述了打印顯示薄膜均勻性的測(cè)試方法，主要包括子像素均勻性、相鄰子像素均勻性、短程均勻性測(cè)試方法。
本文件適用于使用探針式表面輪廓儀（以下稱(chēng)臺(tái)階儀)和白光干涉儀對(duì)厚度范圍為5 nm~105 nm的打印顯示薄膜均勻性的測(cè)試。
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