本文件規(guī)定了非線性光學(xué)晶體元件測試條件，描述了相應(yīng)的測試方法，規(guī)定了測試報(bào)告內(nèi)容的要求。
本文件適用于低溫相偏硼酸鋇（β-BaB2O4，簡稱BBO）、三硼酸鋰（LiB3O5，簡稱LBO）、磷酸二氫鉀（KH2PO4，簡稱KDP）、磷酸鈦氧鉀（KTiOPO4，簡稱KTP）、鈮酸鋰（LiNbO3，簡稱LN）、硫鎵銀（AgGaS2，簡稱AGS）、碘酸鉀（KIO3）的測量活動(dòng)。其他非線性光學(xué)晶體元件的測量活動(dòng)參照使用。