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超輻射發(fā)光二極管組件測試方法

標(biāo) 準(zhǔn) 號： SJ 20785-2000
替代情況：
發(fā)布單位： 中華人民共和國信息產(chǎn)業(yè)部
起草單位： 電子工業(yè)部第44研究所
發(fā)布日期： 2000-10-20
實施日期： 2000-10-20
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更新日期： 2025年04月26日
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內(nèi)容摘要

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了超輻射發(fā)光二極管組件光電參數(shù)的測試方法。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于超輻射發(fā)光二極管組件（以下簡稱“組件”）光電參數(shù)測試。

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