本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了利用高分辨 X射線衍射測(cè)試Ⅲ族氮化物外延片晶格常數(shù)的方法。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于在氧化物襯底(Al2O3、ZnO 等)或半導(dǎo)體襯底(GaN、Si、GaAs、SiC等)上外延生長(zhǎng)的氮化物(Ga,In,Al)N 單層或多層異質(zhì)外延片晶格常數(shù)的測(cè)量。其他異質(zhì)外延片晶格常數(shù)的測(cè)量也可參考本標(biāo)準(zhǔn)。
電業(yè)安全工作規(guī)程（發(fā)電廠和變電所電…電力生產(chǎn)企業(yè)安全設(shè)施規(guī)范手冊(cè)電力建設(shè)安全工作規(guī)程第1部分：火力…電業(yè)安全工作規(guī)程（電力線路部分）火力發(fā)電廠設(shè)計(jì)技術(shù)規(guī)程工業(yè)企業(yè)照明設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)【作廢】《建筑照明設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)》條文說(shuō)明農(nóng)村安全用電規(guī)程【作廢】
