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半導體器件 集成電路 第20部分：膜集成電路和混合膜集成電路總規(guī)范 第一篇：內部目檢要求

標 準 號： GB/T 43035-2023
替代情況：
發(fā)布單位： 國家市場監(jiān)督管理總局 國家標準化管理委員會
起草單位： 中國電子科技集團公司第四十三研究所、中國電子技術標準化研究院
發(fā)布日期： 2023-09-07
實施日期： 2023-09-07
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更新日期： 2023年12月22日
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內容摘要

本文件的目的是檢查膜集成電路和混合膜集成電路內部的材料、結構和制造工藝。通常在封帽或包封前進行該項檢驗，從而找出并剔除帶有內部缺陷的器件。這種缺陷會導致器件在正常應用中失效。其他的驗收準則應與購買商或供應商商定。

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