本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了UICC-終端（Cu）接口的物理特性、電氣特性和邏輯特性的測(cè)試方法和預(yù)期結(jié)果，規(guī)定了UICC-終端（Cu）接口的應(yīng)用特性的測(cè)試方法，內(nèi)容包括測(cè)試環(huán)境、測(cè)試配置、測(cè)試要求和基本的測(cè)試流程。
本部分適用于具有CSIM應(yīng)用的UICC卡，包含CDMA制式的終端和ID-1型、Plug-in型的UICC在應(yīng)用層面的Cu接口功能測(cè)試。
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