本部分為GB/T19403的一部分，等同采用國(guó)際電工委員會(huì)標(biāo)準(zhǔn)IEC60748-11-1：1992《半導(dǎo)體器件集成電路第11部分：第1節(jié)：半導(dǎo)體集成電路內(nèi)部目檢》。
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