本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了測(cè)量光纖涂覆層幾何參數(shù)的試驗(yàn)方法，確立了測(cè)量的統(tǒng)一試驗(yàn)程序和技術(shù)要求。本部分代替ＧＢ／Ｔ１５９７２．２—１９９８《光纖總規(guī)范　第２部分：尺寸參數(shù)試驗(yàn)方法》第７章、第８章。
本部分與ＧＢ／Ｔ１５９７２．２—１９９８第７章、第８章相比主要變化如下：
———原正文中的兩種試驗(yàn)方法詳細(xì)描述分別用附錄Ａ 和附錄Ｂ 的形式給出（１９９８年版的第７章、第８章；本版的附錄Ａ、附錄Ｂ）；
———規(guī)定了方法Ａ 為基準(zhǔn)試驗(yàn)方法（見本版的第４章）；
———規(guī)定了方法Ｂ也適用于Ａ３類、Ａ４類多模光纖（見本版的表１）。