本標準規(guī)定了電子封裝用球形二氧化硅微粉中α態(tài)晶體二氧化硅含量的XRD測試方法。
本標準適用于電子封裝用球形二氧化硅微粉中檢測α態(tài)晶體二氧化硅含量，其它無定形二氧化硅含量的檢測也可參照本標準執(zhí)行。α態(tài)晶體二氧化硅含量測試范圍0.5%以下半定量分析，0.5%-5%定量分析。