本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了利用X射線光譜法測(cè)試電工鋼表面涂層重量（厚度)的方法。本方法用于室溫下測(cè)量試樣單位面積上的涂層重量，其測(cè)量結(jié)果也可以用涂層厚度表示。本標(biāo)準(zhǔn)適用于表面涂層中含有穩(wěn)定的、不受干擾的、X射線熒光強(qiáng)度較大的特性元素的電工鋼，給定涂層材料的測(cè)量范圍主要取決于可獲得的特征X射線熒光強(qiáng)度和可接受的測(cè)量不確定度，并且因所使用的儀器設(shè)備和測(cè)量方式而不同。