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納米技術(shù) 表面增強拉曼固相基片均勻性測量 拉曼成像分析法

標(biāo) 準(zhǔn) 號： GB/T 44075-2024
替代情況：
發(fā)布單位： 國家市場監(jiān)督管理總局 中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會
起草單位： 中國檢驗檢疫科學(xué)研究院、江蘇菲沃泰納米科技股份有限公司
發(fā)布日期： 2024-05-28
實施日期： 2024-12-01
點 擊 數(shù)：
更新日期： 2025年08月28日
內(nèi)容摘要

本文件描述了使用拉曼光譜成像分析法測量表面增強拉曼固相基片均勻性的方法，包括方法概要、儀器設(shè)備、試劑和材料、測試過程及測試報告等。
本文件適用于SERS固相基片均勻性測量。

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