本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了納米薄膜接觸角測量中涉及的術(shù)語、原理、試驗設(shè)備、環(huán)境、樣品制備、分析步驟、結(jié)果計算和試驗報告等。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于襯底為表面平整的納米薄膜涂層。