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搪玻璃層試驗(yàn)方法 第5部分：用電磁法測量厚度

標(biāo) 準(zhǔn) 號： GB/T 7991.5-2014
替代情況： 替代 GB/T 7991-2003
發(fā)布單位： 中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局、中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會
起草單位： 浙江正理生能科技有限公司、沈陽市東華檢測儀器廠、廣州特種承壓設(shè)備檢測研究院等
發(fā)布日期： 2014-12-05
實(shí)施日期： 2015-07-01
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更新日期： 2015年02月13日
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內(nèi)容摘要

GB/T7991的本部分規(guī)定了磁性基體上的搪玻璃層厚度的測量方法。
本部分適用于磁性基體搪玻璃設(shè)備搪玻璃層厚度的測量。

*本標(biāo)準(zhǔn)來自網(wǎng)友 lee1004 分享，只作為網(wǎng)友的交流學(xué)習(xí)之用。
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